Quel est l’impact du temps mort ?
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Figure 4: Avec une vue persistante, les rares comportements du signal sont accentués.
2.2 L’impact du temps mort sur la mesure
L’utilisateur d’oscilloscopes numériques doit être conscient que son instrument de mesure observe seulement des fractions du signal. La section suivante examine quelques cas où le temps mort impact les résultats de mesure.
Réceptivité de l’instrument
Le problème le plus évident avec le temps mort est la réceptivité de l’instrument. Les utilisateurs d’oscilloscopes, le plus souvent, augmenteront la base de temps afin d’améliorer la probabilité de capturer un événement furtif. Ce point ne sera pas si
évident, mais augmenter la base de temps peut effectivement réduire le rapport du temps mort. Malheureusement, une période d’enregistrement plus longue a pour conséquence une vitesse d’acquisition réduite et un rafraîchissement de la forme d’onde plus lent.
Ceci peut devenir tout à fait frustrant quand les configurations de l’instrument doivent
être modifiées au cours d’un mode de balayage continue. Après chaque changement de configuration qui exige une nouvelle acquisition, l’utilisateur doit faire une pause et attendre que le résultat de ce changement apparaisse à l’écran.
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Quel est l’impact du temps mort ?
Détection des rares défauts du signal
Le temps mort a un énorme impact sur le processus de débogage quand de rares
événements ont besoin d’être trouvés et analysés. Comme présenté préalablement, les défauts du signal peuvent uniquement être affichés quand ils se produisent durant la période active du cycle d’acquisition (Figure 3). Pour un oscilloscope numérique type, la période d’acquisition active est bien inférieur à 1%. L’utilisateur par conséquent dépend des conditions de répétition du signal et des longues périodes d’attente.
Eventuellement, la période d’acquisition active de l’oscilloscope coïncidera avec l’anomalie du signal. Un temps mort plus court permettra une détection plus rapide d’un signal en défaut. Une présentation plus détaillée de l’impact du temps de test sur un signal défectueux suivra chapitre 2.3.
Confiance dans les résultats d’analyse
Les fonctions d’analyses telles que les mesures de test de masques (Figure 5), d’histogrammes et de FFT ont besoin d’un temps de traitement supplémentaire et par conséquent allonge la période de temps mort de chaque cycle d’acquisition. Plus la longueur d’enregistrement de la forme d’onde est longue plus la situation devient mauvaise. Plusieurs de ces fonctions d’analyse caractérisent le comportement statistique et les limites du signal à tester. Un plus longue période de temps mort sera en contradiction avec l’obligation de collecter un grand nombre de formes d’onde afin d’obtenir des résultats avec un niveau de confiance élevé. Un long temps mort a donc un impact direct sur le temps de test total.
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Figure 5: Afin de vérifier les spécifications de la couche physique, le test de Masque ou l’Histogramme nécessitent d’acquérir un grand nombre de formes d’ondes pour obtenir statistiquement des résultats fiables.
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